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Fischer菲希爾X熒光射線測厚儀篤摯 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測量儀器

X-Ray熒光射線金屬涂層測厚儀菲希爾原裝 方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測井和海底X射線熒光測量，也得到了很大的發展